偏光應力儀可對透明及弱色材料的雙折射率行檢測，并通過Senarmont補償法計算出光程誤差不過10nm的雙折射率的值。并通過偏振光對雙折射率的分布行檢測分析。折射率的分布和大小直接反應出材料應力的分布與大小。

適用范圍

l 適合于檢測燈等有復雜構的產品。

l 檢測密度的塑料產品，如隱形眼鏡等。

l 檢測光學晶體，如氟化鈣(螢石)等。

檢測方法

1. Crossed Nicols 觀測法

2.Sensitive Color Method 感光色檢測法

3. SenarmonMethod 補償法

Senarmont補償法可以行應力定量分析檢測。打開電源，未放樣品整個視野范圍是黑褐色的，放入樣品，不旋轉檢偏鏡，觀測出zui亮點即為應力zui大點。旋轉檢偏鏡上的刻度盤，直至zui亮點變成黑褐色，記錄此時刻度盤旋轉的角度及該點的厚度，即可用公式換算出應力值。

計算公式:標準光延遲nm/mm=(3.14nm*檢偏鏡旋轉角度)/被測點的厚度mm

應力Mpa=光程差nm/(被測點的光路長cm * 光彈系數(nm/cm/Mpa))